国产精品美女一区二区三区,乱中年女人伦AV三区,人人妻人人澡人人爽欧美精品,美腿丝袜视频

您好!歡迎訪問安徽智微科技有限公司網站!
全國服務咨詢熱線:

13951825145

當前位置:首頁 > 產品中心 > 芯片表征設備 > 膜厚測量儀 > 薄膜測厚儀

薄膜測厚儀

簡要描述:薄膜測厚儀采用光譜干涉原理進行測量,具有非接觸、無破壞、快速等特點,可在真空環境使用;可與大行程工件臺配合,實現大面積膜厚自動測量。

  • 產品型號:
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2024-06-04
  • 訪  問  量:3336

詳細介紹

品牌其他品牌價格區間面議
產地類別進口應用領域醫療衛生,環保,化工,電子
產品名稱:薄膜測厚儀
主要技術指標:
   測量范圍(VIS):15nm—100μm
   測量重復性(RMS):0.086nm
   測量精度(與橢偏儀對比):0.25nm
   測量層數:大于3層
   使用光源:鹵素燈;
入射角度:90°
   測試材料:透明或半透明薄膜材料;
   光斑尺寸:20μm—3mm(可選)
   測量時間:100ms—4ms;
   通信接口:USB2.0
產品特點:
采用光譜干涉原理進行測量,具有非接觸、無破壞、快速等特點;
可在真空環境使用;可與大行程工件臺配合,實現大面積膜厚自動測量。

薄膜測厚儀測試數據

薄膜測厚儀設備組成:
測試主機、光纖、校正件、測量頭、夾持裝置、設備箱、手提電腦。
 

產品咨詢

留言框

  • 產品:

  • 您的單位:

  • 您的姓名:

  • 聯系電話:

  • 常用郵箱:

  • 省份:

  • 詳細地址:

  • 補充說明:

  • 驗證碼:

    請輸入計算結果(填寫阿拉伯數字),如:三加四=7
安徽智微科技有限公司
地址:安徽省合肥市經開區尚澤大都會A座2214
郵箱:1053185136@qq.com
傳真:
關注我們
歡迎您關注我們的微信公眾號了解更多信息:
歡迎您關注我們的微信公眾號
了解更多信息