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薄膜測厚儀
更新時間:
2024-06-04
型號:
瀏覽量:
3308
薄膜測厚儀采用光譜干涉原理進行測量,具有非接觸、無破壞、快速等特點,可在真空環(huán)境使用;可與大行程工件臺配合,實現(xiàn)大面積膜厚自動測量。
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